電子產(chǎn)品試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱/帶操作孔的高低溫試驗(yàn)箱

有小型及大型之分，小型的是指內(nèi)容積比較小，如80升，100升，150升這些般歸為小型高低溫箱，像225升、408升、800升、1000升以上或者非標(biāo)定制的則歸類(lèi)為大型高低溫箱。不管是標(biāo)準(zhǔn)高低溫箱還是小型高低溫箱或大型高低溫箱，它們的用途、特點(diǎn)、工作原理、應(yīng)用行業(yè)等均相同。就如高低溫試驗(yàn)箱樣適用于電子、電器、光電、LED、家電、辦公用品、機(jī)械設(shè)備、玩具、油漆、涂料、等工業(yè)產(chǎn)業(yè)界的原材料、半成品，成品做高溫、低溫、高低溫交變循環(huán)恒定等試驗(yàn)。檢測(cè)測(cè)試物在不同的溫度環(huán)境下是否有性能上的改變及變化。這些設(shè)備主要由不銹鋼加工成的箱式殼體配上加熱系統(tǒng)（高溫功能對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)）及制冷系統(tǒng)（低溫功能對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)）再加上空氣循環(huán)系統(tǒng)（此系統(tǒng)能保證箱內(nèi)均勻度及波動(dòng)度符合及滿足標(biāo)準(zhǔn)對(duì)應(yīng)的要求）以及控制操作系統(tǒng)組成。獨(dú)立的加溫與制冷系統(tǒng)使高溫實(shí)驗(yàn)用溫箱/高低溫設(shè)備箱更有效的升溫、降溫，制冷系統(tǒng)為自動(dòng)控制與安保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。

電子產(chǎn)品試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱/帶操作孔的高低溫試驗(yàn)箱參數(shù)的選型參數(shù)：
溫度范圍：-70℃~150℃
更多溫度范圍可以選擇：A：0℃~150℃；B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-70℃~150℃
溫度波動(dòng)度：±0.5℃；溫度均勻度≤2.0℃
升溫時(shí)間：平均約3.0℃/min（非線性空載）
降溫時(shí)間：平均約0.7℃~1.2℃/min非線性空載）
電源電壓：AC220V或者AC380V,50Hz（±10%）可選擇。
低溫可選擇范圍：RT+10℃～0℃；RT+10℃～-20℃；RT+10℃～-40℃；RT+10℃～-70℃
內(nèi)箱尺寸：寬400mm×高500mm×深400mm;外尺寸約：寬600mm×高1500mm×深1100mm;
溫度均勻度：≤2℃
控制精度：是指控制器表頭控制的精度（≤0.2℃）
溫度波動(dòng)度：±0.5℃(恒定狀態(tài)時(shí))
溫度偏差:±2℃(空載)
降溫速率:約1℃/每分鐘(標(biāo)要求降溫速率)
調(diào)溫方式:平蘅調(diào)溫方式(BTHC方式)
設(shè)備可連續(xù)工作,也可設(shè)定多個(gè)程序，多個(gè)試驗(yàn)條件，工作時(shí)間可調(diào)

電子產(chǎn)品試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱/帶操作孔的高低溫試驗(yàn)箱參數(shù)的用途特點(diǎn)：
用途：該系列設(shè)備廣泛用于比較細(xì)小的電子、電工產(chǎn)品、如小的工業(yè)原材料、小型的零部件、或者小型的成品如手機(jī)或者其它產(chǎn)品的耐低溫試驗(yàn)或者耐低溫儲(chǔ)存。 
特點(diǎn)：體型小、占地空間小、價(jià)格便宜、節(jié)能降耗、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、故障率低。 還具有雙重的PID控制功能，可以自己自動(dòng)調(diào)整、線路損壞報(bào)警、壓縮機(jī)超壓報(bào)警、傳感器斷線報(bào)警等功能； 愛(ài)佩公司設(shè)計(jì)的*送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，溫度分布均勻性佳，波動(dòng)度?。?同時(shí)具有自動(dòng)防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察低溫箱內(nèi)的細(xì)小測(cè)試物。

電子產(chǎn)品試驗(yàn)的高低溫試驗(yàn)箱/帶操作孔的高低溫試驗(yàn)箱與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

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